Сторінки 100 - 105. Yuriy D. Filatov, Olexandr Yu. Filatov, Vasil P. Yashchuk, Uwe Heisel, Michael Storchak, Guy Monteil. IN SITU CONTROL OF ROUGHNESS OF FINISHING PROCESSING NONMETALLIC MATERIAL Скачать
Вы собираетесь скачать - Сторінки 100 - 105. Yuriy D. Filatov, Olexandr Yu. Filatov, Vasil P. Yashchuk, Uwe Heisel, Michael Storchak, Guy Monteil. IN SITU CONTROL OF ROUGHNESS OF FINISHING PROCESSING NONMETALLIC MATERIAL
Нажмите кнопку Скачать, для начала загрузки файла
- Описание:
-
Розділ 7. Високоефективні технологічні процеси в приладобудуванні.
УДК 621.923.
IN SITU CONTROL OF ROUGHNESS OF FINISHING PROCESSING NONMETALLIC MATERIAL.
1)Yuriy D. Filatov, 1)Olexandr Yu. Filatov, 2)Vasil P. Yashchuk, 3)Uwe Heisel, 3)Michael Storchak, 4)Guy Monteil, 1)Bakul Institute for Superhard Materials, National Academy of Sciences of Ukraine, Kiev; 2)National Taras Shevchenko University, Kiev, Ukraine; 3)University of Stuttgart, Germany; 4)National Engineering Institute in Mechanics and Microtechnologies, Besancon, France.
The optical monitoring system for finishing processing surfaces is described. The relation of intensity of the beam reflected from a surface, to intensity of a falling beam allows to estimate a reflexion index in situ. Increase of reflexion index in process of roughness decrease is established.
Keywords: precision surface, in situ quality control, reflectometry, roughness.
1)Ю. Д. Филатов, 1)А. Ю. Филатов, 2) В. П. Ящук, 3)У. Хайзель, 3)М. Сторчак, 4)Г. Монтей 1)Институт сверхтвердых материалов им. В. М. Бакуля НАН Украины, г. Київ, Украина, 2)Киевский Национальный Университет им. Тараса Шевченко, г. Київ, Украина, 3)Штуттгартский университет, г. Штуттгарт, Германия, 4)Национальная Высшая школа механики и микротехники, г. Безансон, Франция.
IN SITU КОНТРОЛЬ ШЕРОХОВАТОСТИ ПРИ ФИНИШНОЙ ОБРАБОТКЕ НЕМЕТАЛЛИЧЕСКИХ МАТЕРИАЛОВ.
Описана схема установки для мониторинга поверхности в процессе полирования, осуществ-ляемого при помощи оптических методов. Отношение интенсивности луча, отраженного от поверхности, к интенсивности падающего луча позволяет оценивать коэффициент отражения света in situ. Установлено, что в процессе уменьшения шероховатости поверхности ее коэф-фициент отражения увеличивается.
Ключевые слова: прецизионная поверхность, in situ контроль качества, шероховатость.
1)Ю. Д. Філатов, 1)О. Ю. Філатов, 2)В. П. Ящук, 3)У. Хайзель, 3)М. Сторчак, 4)Г. Монтей 1)Інститут надтвердих матеріалів ім. В. М. Бакуля НАН України, м. Київ, Україна, 2)Київський Національний Університет ім. Тараса Шевченка, м. Київ, Україна, 3)Штуттгартський університет, м. Штуттгарт, Німеччина, 4)Національна Вища школа механіки і мікротехніки, м. Безансон, Франція.
IN SITU КОНТРОЛЬ ШОРСТКОСТІ ПРИ ФІНІШНІЙ ОБРОБЦІ НЕМЕТАЛЕВИХ МАТЕРІАЛІВ.
Описано схему обладнання для моніторингу поверхні в процесі полірування, що здійснюється за допомогою оптичних методів. Відношення інтенсивності променю, що відбивається від поверхні, до інтенсивності падаючого променю дозволяє оцінити коефіцієнт відбивання in situ. Встановлено, що в процесі зменшення шорсткості поверхні її коефіцієнт відбивання збі-льшується.
Ключові слова: надточна поверхня, in situ контроль якості, шорсткість.
- Размер:
- 304.42 Kb
- Скачиваний:
- 6